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发布时间：2022年09月28日 作者：德国GMC-I高美测仪（上海电励士）
☆ 串I-V曲线测量
☆ 红外测量
备注：通常情况第2类测试适用
于中大型电站系统抽样测试，抽样 比例需要和客户事先商定
组串I-V曲线测量可获得如下信息：
☆ 开路电压Voc、短路电流Isc
☆ Vmpp、Impp、最大功率Pmax u方阵性能的测量值 u组件/组串填充系数 u识别组件/阵列缺陷或遮光问题
备注：I-V曲线测试仪可同时转换为STC状态下的功率值，用于和铭牌标称值进行对比
☆ 确保待测组串和逆变器断开
☆ 被测试组串应该隔离并连接到I-V曲线测试设备。
☆ 根据被测试组件的特性、类型和数量对测试仪器进行设置。
☆ 与I-V 曲线测试仪相关的辐照度计应安装成与阵列平面匹配，并对其进行检查以确保其不受任何局部遮光或反射光的影响。
☆ 在使用参考电池装置的情况下，应对其进行检查，以确保其与被测阵列具有相同的电池技术，或者针对技术上的差异进行适当的修正。
☆ 测试结果转换为STC状态下的功率值
该测试主要着眼于阵列中的异常温度变化，通常这些异常的温度变化是各种故障造成：
☆ IR测试结果 – 组件热斑
通常组件温度应相对均匀，无明显温差区域，但组件在接线盒周围更热，因为热量不会被传 导到周围环境，另外组件在边缘、标签、周边和支撑处看到温度梯度也是正常的。
☆ IR测试结果 - 旁路二极管
如果任何旁路二极管是热的（打开的），检查寻找明显的原因，例如由于二极管保护的组件上的遮挡或碎片。如果没有明显的原因，可以怀疑是一个坏的组件。
☆ IR测试结果 - 电缆连接
组件之间的电线连接不应显著高于电线本身。如果连接更热，请检查连接是否松动或被腐蚀。
EC62446-1:2018版标准主要分两部分：系统文档要求和验证要求
与2016版相比，系统文档要求基本没有变化，对验证要求中测试细节做了优化，例如对于测试结果的比对做了详细说明并给出限值，增加1000v以上组件的绝缘电阻测试。
保留了2016版的附录D，对于I-V曲线畸变的原因的判读，有很高的参考意义
国内针对IEC62446.1-2018版推出团体标准T/CPIA 0010，在IEC原版基础上根据国情做了内容上大幅度的增加，删减，变更，可参考。
